EPC 发布 eGaN Phase 18 可靠性报告

缩小实验室生成的可靠性测试与现实工作条件之间的差距

Efficient Power Conversion (EPC) 发布了其 Phase 18 可靠性报告，提供了关于 eGaN 器件可靠性的新见解。

该报告在之前工作的基础上，通过弥合实验室生成的可靠性测试与跨任务剖面（mission profiles）的器件实际性能之间的差距，进行了进一步的探索。该报告引入了新的方法论，以在特定应用的应力条件下更好地预测器件寿命。这些方法论是通过与客户的紧密合作，并在同行评审的研究和国际会议出版物的支持下制定的。

该报告强调了理解氮化镓高电子迁移率晶体管（GaN HEMTs）基本磨损机制（fundamental wear-out mechanisms）的重要性，并提出了一种定量方法，根据器件在运行期间经历的主要应力条件来估算整体器件寿命。该方法论通过结合不同的应力因素（如电压、电流、温度和占空比），能够对广泛的应用范围做出更准确的寿命预测。

Phase 18 与早期的报告类似，但据 EPC 称，它对主要的磨损机制进行了更深入的研究。这些机制包括 pGaN 结构中栅极的可靠性、承受应力和过压的能力（鲁棒性）、最大电流密度，以及芯片级（chip-scale）和 QFN 封装格式的热机械器件的磨损。该报告还研究了动态开关条件和高频操作下的可靠性，这让我们更好地了解了事物在现实生活中的运作方式。

此外，该报告引入了特定任务（mission-specific）的可靠性评估，包括以快速电流瞬变和变化的负载条件为特征的电机驱动应用。报告提出了一种定制的测试方法来模拟这些特定应用的应力剖面，从而展示了 EPC 的 GaN 技术在这些条件下的坚固性。

“Phase 18 代表了在理解 eGaN 器件如何在真实工作条件下表现方面的一项重大进步，” EPC 的产品可靠性副总裁 Shengke Zhang 说道，“通过识别内在的磨损机制并将它们与特定任务的应力条件联系起来，我们可以更准确地预测器件寿命，并支持更可靠的系统设计。”

“Phase 18 可靠性报告不仅反映了 EPC 在 GaN 技术上持续的创新，也反映了我们与客户合作的力量，” EPC 的首席执行官 Alex Lidow 说道，“我们诚挚地感谢所有通过建设性的讨论甚至具有挑战性的要求做出贡献的客户——这种程度的参与对于弥合实验室测试与实际性能之间的差距至关重要。”

该 Phase 18 可靠性报告将在 APEC 展会上展出。该报告也已发布在 EPC 的网站上。