在嵌入式开发中，性能优化离不开对代码执行时间的精准测量。今天记录两种最常用的统计方式：微观的周期计数与宏观的毫秒统计。
1. 微观精度：DWT 计数器（内核级周期统计）
第一段代码使用了 ARM Cortex-M 内核特有的 DWT (Data Watchpoint and Trace) 计数器。
uint32_t tick_start = DWT->CYCCNT;
// ... 执行代码 ...
uint32_t elapsed_ticks = DWT->CYCCNT - tick_start;
float elapsed_us = (float)elapsed_ticks / SystemCoreClock * 1000000.0f;-
原理：
DWT->CYCCNT挂在 CPU 时钟上，CPU 每走一个时钟周期（Tick），它就加 1。 -
优点：
-
极高精度：在 64MHz 频率下，分辨率高达 15.625 纳秒。
-
零额外负载：它是硬件自动累加，不占用中断。
-
适用场景：测量算法性能、数学运算耗时、驱动时序调试。
-
注意：64MHz 下，32 位计数器约 67 秒就会溢出，仅适用于短时间测量。
2. 宏观精度：HAL_GetTick (系统级毫秒统计)
STM32 常见的另一种方式是基于 SysTick 定时器产生的毫秒计数。
uint32_t start_ms = HAL_GetTick();
// ... 执行耗时较长的操作 ...
uint32_t elapsed_ms = HAL_GetTick() - start_ms;-
原理：通常配置
SysTick每 1ms 触发一次中断，在中断里给一个全局变量加 1。 -
优点：
-
简单易用：标准 HAL 库内置，随处可用。
-
范围大：溢出周期长达 49 天。
-
适用场景：统计用户操作延时、传感器采样间隔、超时处理（Timeout）。
-
缺点：精度只有 1ms，无法捕捉代码级的细微波动。
💡 总结与心得
| 统计方式 | 核心 API / 寄存器 | 分辨率 | 常用单位 | 特点 |
|---|---|---|---|---|
| DWT | DWT->CYCCNT |
1 周期 | \(us\) / \(ns\) | 极精准，适合底层调优 |
| SysTick | HAL_GetTick() |
1 毫秒 | \(ms\) | 稳定，适合应用层逻辑 |
感悟：做算法优化时，一定要用 DWT。有时候一行浮点运算代码多加了一个 (float) 强制转换，在 DWT 的显微镜下，那几十个周期的差距会无所遁形。而对于用户交互，HAL_GetTick 已经绰绰有余。