半导体二极管三极管静态参数测试仪系统STD2000X能测很多电子元器件静态参数以及IV曲线扫描
如 Si, SiC, GaN 材料的 IGBTs，Diodes，MOSFETs，HEMT，BJTs，SCRs，光耦，继电器，稳压器......
可以外接夹具、工装、探针台、分选机、编带机、机械手
高压源 1400V（选配2KV/2.5KV/3KV）166 0000 1664/唐工
高流源 40A（选配 100A,200A,300A,500A,1000A）
栅极电压电流 20V（选配40V/100V）166 0000 1664/唐工
分辨率最高至 100uV / 100pA 精度最高可至 0.1%
静态参数测试 + IV 曲线扫描 + 光耦开关特性 + 二极管 Trr + 分选机探针台连接
一、应用场景
半导体二极管三极管静态参数测试仪系统设备STD2000X主要应用场景列举如下
1、测试分析（二极管三极管研发设计阶段的初始测试）
2、失效分析（对失效器件进行测试分析，查找失效机理。以便于对电子整机的整体设计和使用过程提出改善方案）
3、选型配对（在器件焊接至电路板之前进行全部测试，将测试数据比较一致的器件进行分类配对）
4、来料检验（研究所及电子厂的质量部（IQC）对入厂器件进行抽检/全检，把控器件的良品率）
5、量产测试（可连接机械手、扫码枪、分选机等各类辅助机械设备，实现规模化、自动化测试）
二、配置一览
三、产品特点
半导体二极管三极管静态参数测试仪系统设备STD2000X的主要特点如下
四、测试对象测试参数
半导体二极管三极管静态参数测试仪系统设备STD2000X能测Si, SiC, GaN 材料的 IGBTs，Diodes，MOSFETs，HEMT，BJTs，SCRs，光耦，继电器，稳压器......可以外接夹具、工装、探针台、分选机、编带机、机械手
五、人机界面
半导体二极管三极管静态参数测试仪系统设备STD2000X程控软件基于 LabVIEW 平台编写，以及C++两个版本。自由选择。填充式菜单界面。中文语言，操作明了快捷；
六、IV曲线功能
半导体二极管三极管静态参数测试仪系统设备STD2000X能实时自动进行IV曲线扫描；
IGBT——N沟道/P沟道
IC vs. VCE [at range of VGE]
IC vs. VGE [at range of VCE]
ICES vs. VCE
IF vs. VF
VCE vs. VGE
Mosfet——N沟道/P沟道
ID vs. VDS [at range of VGS]
ID vs. VGS [at range of VDS]
IS vs. VSD
RDS vs. VGS [at fixed ID]
RDS vs. ID [at several VGS]
IDSS vs. VDS [Beverse Bias Selectabe]
VGSTH vs. ID
JFET——N沟道/P沟道
ID(OFF) vs. VDS [at range of VGS]
ID(OFF) vs. VGS [Reverse Bias][at fixed VDS]
ID(ON) vs. VDS [at range of VGS]
ID(ON) vs. VGS [Reverse Bias][at fixed VDS]
三极管——NPN/PNP
HFE vs. IC
BVCE(O,S,R,V) vs. IC
BVEB0 vs. IE
ICBO vs. VCBO
VCE(SAT) vs. IC [at fiked IC/IB ratio]
VCE(SAT) vs. IB [at range of IC]
VBE(SAT) vs. IC [at fixed IC/IB ratio]
VBE(ON) vs. IC [at fixed VCE]
IC vs. VCE [at range of IB][Curve Tracer only]
IEBO vs. VEB
ICEO vs. VCE
固态过压保护器
IT vs. VT+[at fixed IBO]
IT vs. VT- [at fixed IB0]
正向稳压器
Electronic Load vs. VOUT [at fixed IMAX]
负向稳压器
Electronic Load vs. VOUT [at fixed IMAX]
齐纳二极管
IF vs. VF
IZ vs. BVZ
双向触发二极管
ID vs. VF+
ID vs. VF-
双向可控硅
IT vs. VT+ [at fixed IG and RGK open]
IT vs. VT- [at fixed IG and RGK open]
二极管
IF vs. VF
IR vs. VR
高压触发二极管
IT vs. VT+[at fixed IBO]
IT vs. VT- [at fixed IB0]
可控硅
IT vs. VTM [at fixed IG and RGK open]
七、光耦静态参数动态参数测试
半导体二极管三极管静态参数测试仪系统设备STD2000X能测试光耦的动态参数、静态参数；
八、关于本机
半导体二极管三极管静态参数测试仪系统设备STD2000X是由我公司技术团队结合半导体二极管三极管测试的多年经验，以及众多国内外测试系统产品的熟悉了解后，完全自主开发设计的全新一代“晶体管直流参数测试系统”。软件及硬件均由团队自主完成。这就决定了这款产品的功能性和可靠性能够得到持续完善和不断的提升。
脉冲信号源输出方面，高压源标配 1400V（选配 2KV），高流源标配 40A（选配 100A,200A,500A）栅极电压 40V，栅极电流 100mA，分辨率最高至 1.5uV / 1.5pA，精度最高可至 0.1%。程控软件基于 LabVIEW 平台编写，填充式菜单界面。采用带有开尔文感应结构的测试插座，自动补偿由于系统内部及测试电缆长度引起的任何压降，保证测试结果准确可靠。产品可测试 Si, SiC, GaN 材料的 IGBTs, DIODEs, MOSFETs, BJTs, SCRs 等 7 大类 26 分类的电子元器件。涵盖电子产品中几乎所有的常见器件。无论电压电流源还是功能配置都有着极强的扩展性
产品为桌面放置的台式机结构，由测试主机和程控电脑两大部分组成。外挂各类夹具和适配器，还能够通过 Prober 接口、Handler 接口可选（16Bin）连接分选机和机械手建立工作站，实现快速批量化测试。通过软件设置可依照被测器件的参数等级进行自动分类存放。能够极好的应对“来料检验”“失效分析”“选型配对”“量产测试”等不同场景。
产品的可靠性和测试数据的重复性以及测试效率都有着非常优秀的表现。创新的“点控式夹具”让操作人员在夹具上实现一点即测。操作更简单效率更高。测试数据可保存为 EXCEL 文本。