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深入解析TMS320F2837xD ADC/DAC/CMPSS：从寄存器到Driverlib实战指南

news 2026/7/22 19:41:12

1. 项目概述与核心价值

在电机驱动、数字电源或者任何需要高精度实时反馈的控制系统里，ADC和DAC的精度直接决定了整个环路的性能上限。你辛辛苦苦设计的PID算法，可能就因为ADC采回来的值有几十个LSB的误差，或者DAC输出的电压有毫伏级的漂移，导致系统震荡、响应迟缓甚至失控。很多工程师拿到像TMS320F2837xD这样的高性能MCU，看着数据手册里动辄几十页的ADC、DAC寄存器描述，往往感到无从下手，要么直接调用库函数而不知其所以然，要么对着寄存器位域一头雾水，调试起来效率极低。

我这些年调试过不少基于C2000系列的项目，从最初的F280x到现在的F2837xD，一个深刻的体会是：真正吃透一个外设，关键不在于背下所有寄存器，而在于理解其硬件架构与软件API之间的映射关系，以及那些数据手册里可能一笔带过、但却能要你命的“坑”。比如，ADC的线性度校准寄存器ADCINLTRIM，手册上就一句“非TI文档指示请勿修改”，但如果你在做高精度测量，不搞清楚它的原理和用法，噪声和非线性误差根本压不下去。再比如DAC的同步更新机制，用不好就会导致输出毛刺，在闭环控制中引入不必要的扰动。

这篇文章，我就以TMS320F2837xD的ADC、DAC和CMPSS（比较器子系统）这三个最核心的模拟外设为例，带你深入寄存器层面，并理清其与Driverlib库函数的对应关系。我的目标不是罗列寄存器手册，而是结合我实际调试中遇到的典型问题，告诉你每个关键配置背后的设计意图、如何正确使用Driverlib API来规避底层风险，以及那些只有踩过坑才知道的注意事项。无论你是刚开始接触C2000的新手，还是想优化现有设计的老手，相信这些从项目实战中提炼出的细节都能让你有所收获。

2. ADC模块：从寄存器到驱动函数的深度解析

ADC是实时控制系统的“眼睛”，它的性能至关重要。F2837xD的ADC模块非常复杂，支持多通道、多触发源、后处理块（PPB）等高级功能。直接操作寄存器进行配置不仅容易出错，而且代码可读性和可移植性极差。Driverlib库的出现就是为了解决这个问题，但如果你只停留在调用ADC_setupSOC()、ADC_readResult()这个层面，一旦遇到异常，调试将异常困难。我们必须建立寄存器与API的映射思维。

2.1 核心控制寄存器与API映射逻辑

ADC的寄存器数量庞大，但我们可以将其分为几类：控制类、状态类、结果类和校准类。Driverlib的函数命名通常能直观反映其操作的寄存器。例如，所有以ADC_set、ADC_enable、ADC_disable开头的函数，基本都对应着某个控制寄存器的特定位域的写操作。而ADC_get、ADC_read开头的函数则对应读操作。

以ADC控制寄存器1（ADCCTL1）为例：这个寄存器控制着ADC最基础的工作模式，如中断脉冲模式、转换器启停、忙状态等。我们来看Driverlib是如何封装它的：

ADC_setInterruptPulseMode(): 此函数操作ADCCTL1.INTPULSEPOS位。它决定了ADC序列发生器（SOC）在哪个阶段产生中断脉冲。在单次触发多通道采样时，设置为“在序列结束时”产生中断可以确保所有通道数据就绪后再读取，避免数据错位。
ADC_enableConverter()/ADC_disableConverter(): 这两个函数操作ADCCTL1.ADCPWDNZ位。这里有一个关键细节：使能ADC转换器后，需要等待一段上电时间（t~WAIT~，具体值见芯片数据手册）才能开始转换。Driverlib函数内部不会帮你等待。我常用的做法是在使能后插入一个基于系统时钟的简单延时循环，或者查询某个标志位（如果硬件提供）。
ADC_isBusy(): 这个函数读取ADCCTL1.ADCBSY位。在启动转换后，特别是在连续转换模式下，在读取结果前查询此位可以确保转换完成，避免读到旧数据或未定义数据。

配置SOC（Start-of-Conversion）的典型流程：SOC配置是ADC使用的核心。每个SOC可以独立配置触发源、通道和采样窗口。寄存器ADCSOCxCTL（x=0~15）控制着这些参数。Driverlib用ADC_setupSOC()函数来统一配置。

// 配置SOC0：由EPWM1的SOCA触发，采样ADCINA0，采样窗口为15个ADC时钟周期 ADC_setupSOC(ADC_ADCA_BASE, ADC_SOC_NUMBER0, ADC_TRIGGER_EPWM1_SOCA, ADC_CH_ADCIN0, 15);

这行代码背后，Driverlib会向ADCSOC0CTL寄存器写入一个组合值：触发源选择位TRIGSEL、通道选择位CHSEL以及采样窗口宽度ACQPS。理解这一点很重要，当你想实现一些非常规触发逻辑（比如用软件强制触发和外部触发组合）时，你就知道需要去查ADCSOCxCTL寄存器的位定义，而不是盲目地找库函数。

2.2 结果读取与中断处理机制

转换完成后，结果存放在ADCRESULTx寄存器中。Driverlib提供了ADC_readResult()函数。这里需要注意结果对齐方式。F2837xD的ADC是12位精度，结果可以左对齐或右对齐存储在16位寄存器中。这由ADCCTL2寄存器的RESOLUTION位控制，对应的Driverlib函数是ADC_setMode()。在读取结果时，必须根据对齐方式做相应的移位处理，虽然ADC_readResult()函数内部会处理，但如果你直接操作寄存器，就必须自己注意。

uint16_t adcResult; // 假设设置为12位右对齐模式 adcResult = ADC_readResult(ADC_ADCA_BASE, ADC_SOC_NUMBER0); // adcResult 的低12位为有效值，高4位为0 float voltage = (adcResult * 3.3) / 4095.0; // 假设参考电压为3.3V

中断处理是ADC数据流的关键。相关寄存器包括ADCINTFLG（中断标志）、ADCINTFLGCLR（标志清除）、ADCINTSEL1N2（中断选择）。Driverlib的封装使得中断配置变得清晰：

ADC_setInterruptSource(): 选择哪个SOC号（例如SOC0）的完成事件触发中断。
ADC_enableInterrupt(): 使能ADC模块的该中断。

在中断服务程序（ISR）中：

if (ADC_getInterruptStatus(ADC_ADCA_BASE, ADC_INT_NUMBER1)) { // 读取ADC结果... ADC_clearInterruptStatus(ADC_ADCA_BASE, ADC_INT_NUMBER1); }

特别注意：ADC_clearInterruptStatus()函数实际上是对ADCINTFLGCLR寄存器写1来清除ADCINTFLG中的标志位。这是一个“写1清除”的寄存器，直接向ADCINTFLG写0是无效的。Driverlib帮你隐藏了这个细节，但如果你自己操作寄存器，这是必须牢记的。

2.3 校准寄存器：精度提升的关键与风险区

这是很多工程师不敢碰但又至关重要的部分。输入材料中提到了ADCINLTRIM6寄存器，它是ADC积分非线性（INL）校准寄存器组中的一个。INL描述了ADC实际传输特性曲线与理想直线的偏差。TI在工厂测试时，会为每颗芯片计算出一组最优的INL校准值，并烧录到芯片的特定存储区域。上电时，系统初始化代码（如Device_cal()函数）会将这些值加载到ADCINLTRIM1到ADCINLTRIM6这些寄存器中。

为什么手册警告“不要修改”？因为这些校准值是在特定温度、电压下测得的。如果你擅自修改，可能会使ADC在当前的温度电压条件下偏离最佳线性度，甚至超出数据手册规定的误差范围。ADC_setINLTrim()这个Driverlib函数的存在，恰恰说明了在特定情况下修改是必要的，例如：

温度补偿：如果你的应用环境温度变化范围很广，而工厂校准是在室温进行的，在极端温度下INL特性可能会漂移。你可能需要根据温度传感器读数，动态微调INL校准值。这需要你事先在不同温度点进行大量测试��建立温度-校准值查找表。
电压基准变化：如果你使用了非标准的ADC参考电压，也可能需要重新校准。

如何安全地使用校准函数？

// 1. 首先，读取出厂校准值作为基准 uint32_t factoryTrim = ADC_getINLTrim(ADC_ADCA_BASE, ADC_INL_TRIM_SECTION_1); // 2. 根据你的补偿算法（如查表）计算一个微调量delta int32_t delta = calculateINLDelta(temperature); // 3. 在工厂值基础上进行微调，而不是随意写入一个绝对值 ADC_setINLTrim(ADC_ADCA_BASE, ADC_INL_TRIM_SECTION_1, factoryTrim + delta);

核心建议：除非你完全理解INL校准的原理，并且有充分的测试数据和明确的补偿模型，否则不要动这些寄存器。通常，保持Device_cal()的加载结果就是最优选择。偏移校准寄存器ADCOFFTRIM同理，对应的函数是ADC_setOffsetTrim()。

2.4 后处理块（PPB）与高级功能

PPB是F2837xD ADC的一个强大特性，它允许在硬件上对转换结果进行偏移校准、限值比较，并生成事件或中断。这对于实现快速、确定性的过流/过压保护至关重要，无需CPU干预。

相关寄存器如ADCPPBxCONFIG、ADCPPBxTRIPHI/LO等，Driverlib提供了ADC_setupPPB()、ADC_setPPBTripLimits()等函数进行配置。

// 配置PPB1，对SOC0的结果进行后处理 ADC_setupPPB(ADC_ADCA_BASE, ADC_PPB_NUMBER1, ADC_SOC_NUMBER0); // 设置高限值为3000（12位ADC值） ADC_setPPBTripLimits(ADC_ADCA_BASE, ADC_PPB_NUMBER1, 3000, 0); // 使能PPB1比较事件 ADC_enablePPBEvent(ADC_ADCA_BASE, ADC_PPB_NUMBER1); // 配置当结果超过高限时，触发EPWM的Trip-zone输入，立即关闭PWM EPWM_enableTripZoneSignals(EPWM1_BASE, EPWM_TZ_SIGNAL_ADC_EVT1);

实操心得：PPB的延迟时间（从ADC转换完成到Trip信号输出）是固定的、极短的几个时钟周期。利用PPB实现硬件保护环路的响应速度，远比在ADC中断中软件判断后再操作GPIO或PWM要快得多，对于防止功率管炸机至关重要。务必在数据手册中查清这个延迟时间，并将其纳入你的系统安全时间预算。

3. DAC模块：灵活输出与同步更新策略

DAC在控制系统中常作为参考电压源、波形发生器或偏置电压提供者。F2837xD的缓冲式DAC（Buffered DAC）带输出缓冲，能直接驱动一定的负载。

3.1 DAC寄存器组与驱动函数精讲

DAC的寄存器相对ADC简单很多，但每一个都关乎输出的准确性和稳定性。

DACCTL(控制寄存器):
- DACREFSEL位：选择参考电压源。0选择VDAC引脚输入，1选择内部ADC的VREFHI。关键点：VDAC引脚需要从外部接入一个干净、稳定的电压源（通常是3.3V或2.5V）。如果你选择内部VREFHI，则需要确保ADC的参考电压电路已经稳定。Driverlib函数为DAC_setReferenceVoltage()。
- LOADMODE位：更新模式选择。这是DAC使用的精髓所在。0表示立即加载（下次系统时钟），1表示同步到EPWMSYNCPER信号加载。DAC_setLoadMode()用于设置此模式。
- SYNCSEL位：当LOADMODE=1时，选择具体的哪个EPWM模块的SYNCPER信号。DAC_setPWMSyncSignal()用于设置。
DACVALS与DACVALA(影子与活动寄存器): 这是典型的“影子寄存器”设计。DACVALS是用户写入的目标值寄存器。DACVALA是直接控制DAC输出电压的活动寄存器。根据LOADMODE的设置，DACVALS的值会在特定时刻被复制到DACVALA。DAC_setShadowValue()写DACVALS，DAC_getActiveValue()读DACVALA。
DACOUTEN(输出使能寄存器): 控制DAC输出缓冲器的使能。在输出使能前，必须确保DAC已经上电并稳定。Driverlib函数为DAC_enableOutput()/DAC_disableOutput()。
DACTRIM(校准寄存器): 用于微调DAC的偏移误差。工厂校准通常在2.5V参考下进行。重要警告：如果你使用的参考电压不是2.5V（例如使用3.3V的VDAC），则必须重新调整偏移校准，否则输出误差可能超规格。Driverlib提供了DAC_tuneOffsetTrim()函数，它内部会执行一个校准序列。我强烈建议在DAC初始化、参考电压确定后，调用一次这个函数。

3.2 DAC初始化和波形生成实战

一个稳健的DAC初始化序列如下：

void DAC_Init(void) { // 1. 使能DAC模块时钟（通常由SysCtrl配置，此处省略） // 2. 配置参考电压源（假设使用外部VDAC=3.3V） DAC_setReferenceVoltage(DACA_BASE, DAC_REF_VDAC); // 3. 配置加载模式：同步到EPWM1的SYNCPER DAC_setPWMSyncSignal(DACA_BASE, DAC_SYNC_EPWM1); DAC_setLoadMode(DACA_BASE, DAC_LOAD_SYSCLK); // 先设为立即加载，方便初始设置 // 4. 写入初始值并立即加载 DAC_setShadowValue(DACA_BASE, 2048); // 中点值，对应1.65V (3.3V/2) // 5. 使能输出 DAC_enableOutput(DACA_BASE); // 6. 等待DAC上电稳定时间（t_PU, 见数据手册），例如延时若干us DEVICE_DELAY_US(10); // 7. 执行偏移校准（尤其在使用非2.5V参考时） DAC_tuneOffsetTrim(DACA_BASE); // 8. 切换为同步加载模式，准备与PWM同步更新 DAC_setLoadMode(DACA_BASE, DAC_LOAD_SYNC); }

生成正弦波：要与PWM同步生成干净的正弦波，你需要一个存储在数组中的正弦表，并在EPWM的周期中断（或SYNCPER事件关联的中断）中更新DACVALS。

#define SINE_TABLE_SIZE 100 uint16_t sineTable[SINE_TABLE_SIZE]; uint16_t tableIndex = 0; // 在EPWM周期中断服务函数中： interrupt void epwm1_isr(void) { // 更新DAC影子寄存器，值将在下一个SYNCPER事件时加载到DACVALA DAC_setShadowValue(DACA_BASE, sineTable[tableIndex]); tableIndex = (tableIndex + 1) % SINE_TABLE_SIZE; // ... 其他中断处理 EPWM_clearEventTriggerInterruptFlag(EPWM1_BASE); }

避坑指南：

毛刺问题：如果直接在SYNCPER事件发生时计算并写入DAC值，可能会因为计算延迟导致写入错过加载时机，产生输出毛刺。最佳实践是像上面一样，在中断中提前写入影子寄存器。
同步信号配置：确保你选择的EPWM模块的SYNCPER信号确实被产生。这需要正确配置EPWM的时基模块（TB）的同步输出信号。
输出负载：缓冲DAC的输出驱动能力有限（具体见数据手册的驱动电流能力）。驱动低阻抗负载会导致输出电压下降和失真。必要时需外加运放进行缓冲。

4. CMPSS模块：硬件比较与保护逻辑的实现

CMPSS是一个集成了比较器、内部DAC和数字滤波的子系统，常用于峰值电流控制、过流/过压保护等需要快速响应的场景。它的优势在于全硬件实现，响应速度极快，且不占用CPU资源。

4.1 模块架构与寄存器/函数映射

一个CMPSS实例包含两个比较器（COMPH高比较器，COMPL低比较器）、两个内部12位DAC（DACH, DACL）和两个数字滤波器。Driverlib的命名规则很清晰：CMPSS_configHighComparator()、CMPSS_configDAC()、CMPSS_configFilter()等。

比较器配置：核心是配置正负输入源。正输入通常来自外部引脚（CMPINxP）。负输入可以选择外部引脚（CMPINxN）或内部DAC的输出。通过COMPDACCTL寄存器的SELREF位可以选择内部DAC的参考电压（VDDA或VDAC）。Driverlib函数CMPSS_configDAC()可以一次性配置DAC的参考源和初始值。

// 配置高比较器的内部DAC负输入 CMPSS_configDAC(CMPSS1_BASE, CMPSS_DAC_HIGH, CMPSS_DAC_REF_VDAC, 1500); // 配置高比较器，正输入为引脚，负输入为内部DAC CMPSS_configHighComparator(CMPSS1_BASE, CMPSS_INSRC_PIN, CMPSS_NEGSRC_DAC);

数字滤波器配置：这��抗干扰的关键。滤波器基于一个采样窗口（SAMPWIN）和阈值（THRESH）工作。只有当窗口内高电平（或低电平）的样本数达到阈值时，滤波器输出才会翻转。

// 配置高比较器输出滤波器：采样窗口为7个周期，阈值为5，时钟预分频为9 CMPSS_configFilterHigh(CMPSS1_BASE, 7, 5, 9);

这意味着什么？滤波器时钟 = 系统时钟 / (9+1)。滤波器会每10个系统时钟采样一次比较器原始输出。它会维护一个8（7+1）个样本的FIFO。只有当这8个样本中至少有6（5+1）个为高电平时，滤波输出才为高。这能有效滤除短于(THRESH+1) * (CLKPRESCALE+1)个系统时钟周期的毛刺。

4.2 斜坡发生器（Ramp Generator）的应用解析

这是CMPSS用于峰值电流模式控制等场景的“神器”。斜坡发生器只能递减（Ramp Down）。它的核心思想是：在每一个PWM周期开始时，将一个最大值（RAMPMAXREFS）加载到计数器RAMPSTS中，然后每个系统时钟周期减去一个步长（RAMPDECVALA）。RAMPSTS的高12位会作为DACH的输入值。这样，DACH的输出就是一个从高到低线性下降的斜坡电压。

配置步骤：

配置DACH的值为斜坡发生器输出：CMPSS_configDACMode(CMPSS1_BASE, CMPSS_DAC_HIGH, CMPSS_DAC_SRC_RAMP);
设置斜坡最大值、递减值和初始延迟：CMPSS_configRamp(CMPSS1_BASE, maxVal, decVal, delay);
指定同步信号（通常为某个EPWM的SYNCPER）：CMPSS_setSyncSignal(CMPSS1_BASE, CMPSS_SYNC_EPWM1);

工作流程：

PWM周期开始，EPWMSYNCPER信号到来，RAMPSTS被重载为RAMPMAXREFS。
延迟delay个时钟周期后，RAMPSTS开始每个时钟递减decVal。
当电感电流采样值（接在CMPSS正输入）上升到与下降的DACH输出（接在负输入）相等时，比较器翻转（CTRIPH变高）。
这个CTRIPH信号可以通过X-BAR直接连接到EPWM的Trip-Zone输入，立即关闭PWM输出，实现逐个周期的峰值电流限制。

这种硬件实现的优势是无可比拟的：响应延迟只有比较器+数字滤波器的几个时钟周期（通常<100ns），完全避免了软件中断响应、判断、处理带来的延迟（通常>1us），极大地提高了开关电源的瞬态响应能力和可靠性。

4.3 CMPSS与EPWM的联动配置

CMPSS的输出CTRIPH和CTRIPL通常需要连接到EPWM的Trip-Zone，以实现硬件保护。

// 1. 配置X-BAR，将CMPSS1的CTRIPH输出连接到EPWM1的TZ1输入 XBAR_setInputPin(XBAR_INPUT_EPWM1_TZ1, XBAR_INPUT_CMPSS1_CTRIPH); // 2. 配置EPWM1的Trip-Zone，当TZ1为高时，强制PWM输出为低电平（异步跳变） EPWM_enableTripZoneSignals(EPWM1_BASE, EPWM_TZ_SIGNAL_1); EPWM_setTripZoneAction(EPWM1_BASE, EPWM_TZ_ACTION_EVENT_TZA, EPWM_TZ_ACTION_FORCE_HIGH); // 注意：通常保护动作是强制低（FORCE_LOW）或高阻（HI_Z），这里仅为示例。

重要提醒：务必查阅芯片的引脚复用和X-BAR连接表。不是所有的CMPSS输出都能连接到任意EPWM的Trip输入。错误的连接会导致配置无效，保护功能失灵。

5. 常见问题排查与调试技巧实录

即使理解了所有寄存器和函数，实际调试中还是会遇到各种问题。下面是我总结的一些典型故障和排查思路。

5.1 ADC采样值不准或跳动大

检查模拟前端电路：这是最常见的原因。确保信号调理电路（分压、滤波、运放）工作正常，电源干净，地线连接良好。用示波器直接观察ADC输入引脚上的信号。
确认采样窗口（ACQPS）：ACQPS设置得太小，采样电容没有足够时间充电到输入电压，会导致采样误差。计算公式为：采样时间 =(ACQPS + 1) * ADCCLK周期。确保该时间大于你信号源的内阻与ADC采样电容构成的RC电路的稳定时间。对于高阻抗源，需要增大ACQPS。
检查参考电压：测量VREFHI和VREFLO（通常是模拟地）引脚的实际电压。噪声或跌落会直接影响所有通道的精度。
校准寄存器被意外修改：检查代码中是否有地方误调用了ADC_setOffsetTrim()或ADC_setINLTrim()。可以尝试在初始化后读取这些寄存器的值，与TI提供的Device_cal默认值对比。
数字噪声干扰：确保ADC的模拟电源（VDDA）和数字电源（VDD）之间使用了合适的磁珠或电感隔离，并且去耦电容（通常0.1uF和10uF组合）尽可能靠近芯片引脚放置。

5.2 DAC输出无电压或电压不对

输出未使能：最基础的错误。确认DACOUTEN寄存器（通过DAC_enableOutput()）已被正确置位。
参考电压源问题：如果选择VDAC，检查该引脚是否有正确的电压输入（如3.3V）。如果选择内部VREFHI，需确保ADC模块已正确初始化且参考电压稳定。
影子寄存器未加载：如果配置为同步模式（LOADMODE=1），但对应的EPWMSYNCPER信号没有产生，那么写入DACVALS的值永远不会加载到DACVALA。可以先切换到立即加载模式（LOADMODE=0）测试输出是否正常。
锁存寄存器（DACLOCK）被锁定：这是一个易忽略点。如果DACLOCK寄存器锁定了DACCTL或DACVALS，那么后续的配置写入是无效的。检查代码中是否意外调用了DAC_lockRegister()。锁定后只有系统复位才能解锁。
负载过重：用万用表或示波器测量DAC输出引脚的空载电压。如果空载正常，接上负载后跌落严重，说明负载阻抗太小，超出了DAC缓冲器的驱动能力，需要外加运放。

5.3 CMPSS保护功能不触发或误触发

数字滤波器配置过于“苛刻”：如果SAMPWIN太小或THRESH设置得太接近SAMPWIN，轻微的噪声就可能导致滤波器输出不翻转。对于需要快速保护的应用（如过流），可以适当减小SAMPWIN和THRESH，甚至旁路滤波器（CMPSS_disableFilter()）。
内部DAC值设置不当：牢记DACH的值必须始终大于DACL的值。如果DACL的值不为0且高于DACH，可能会导致不可预测的行为。不使用的那个比较器的内部DAC，应将其值设置为极限值（DACL设为0，DACH设为4095）。
X-BAR连接错误：这是硬件保护失效的常见原因。使用CCS的寄存器查看工具或调试脚本，确认CTRIPH/L信号是否真的路由到了你期望的EPWM Trip输入。检查XBAR相关寄存器的配置。
EPWM的Trip-Zone未正确配置：即使信号送到了，EPWM模块也需要配置为识别该Trip信号并采取行动（如强制高、强制低、高阻）。检查EPWMxTZCTL寄存器配置。
比较器响应速度：虽然比较器本身很快，但输入信号的变化率（dv/dt）如果太慢，在阈值点附近会产生振荡，导致滤波器输出抖动。确保被比较的信号边沿足够陡峭，或者在硬件上增加少许正反馈（滞回），不过F2837xD的CMPSS似乎不直接支持软件可配滞回，需在外部电路实现。

5.4 Driverlib函数调用失败排查

基地址错误：F2837xD有多个ADC、DAC、CMPSS实例（如ADCA, ADCB, ADCC, ADCD）。调用函数时传入错误的基地址（如ADC_ADCA_BASEvsADC_ADCB_BASE）会导致配置写到错误的外设上。仔细核对数据手册中的模块实例映射。
时钟未使能：在调用任何外设的Driverlib函数前，必须确保该外设的时钟已被使能。这通常通过SysCtl_enablePeripheral()函数完成。时钟未使能时，写入寄存器可能无效。
EALLOW保护：许多关键寄存器（如校准寄存器、锁存寄存器、某些配置寄存器）受EALLOW保护。Driverlib函数内部通常会处理EALLOW和EDIS，但如果你在函数调用前后混合了自己的寄存器直接操作，可能需要手动使用EALLOW;和EDIS;宏。
查看函数源码：当某个Driverlib函数行��不符合预期时，最直接的方法是进入其源码（通常在driverlib文件夹下的.c文件）。查看它具体操作了哪些寄存器，如何操作的，这往往是解决问题的最终捷径。例如，查看ADC_setInterruptSource()源码，你能清楚看到它是如何配置ADCINTSELxNy寄存器的。