当前位置：首页 > news >正文

DFT笔记100

news 2026/8/10 11:18:07

上面几种配置都有它们自己的优缺点，所以在真实的系统应用中这些配置的结合以及TAM的重构是常有的事儿，这里列举了结合多种配置使用的案例以及对应的文献。

这一节描述三种架构，为了解决分级设计中的core测试问题，至于为什么第一段讲了，但看不懂╮(╯▽╰)╭

第一种叫做Core Access Switch (CAS)，是在2000年被提出来的，如下图，每个core都被1500 wrapper所wrap，而且CAS block被分配给每个core：

CAS blocks被用N个测试信号串联起来，一个test controller被用来提供N个测试信号给所有CAS blocks (CAS 1, CAS 2, …)，每个CAS block可以工作在以下的模式下：

如下图所示：

对于test mode来说，CAS可以根据core的测试需求提供四种测试类型，如下图：

这四种类型的意思就是CAS收到N个测试信号并把他们转换成P个信号，可以以四种不同的方式实现：

针对第一个测试架构的第四种CAS结构中遇到的分级设计测试的问题，有了第二种测试架构，分级测试架构，允许分级core的PnP存在，如下图所示：

这个架构支持用1149.1 (JTAG)和1500 (CTAG)标准wrap core，除了这两种，如果core被hierarchical core (H-core) wrapper所wrap，这个分级core就可以成为plugged and played。

H-core wrapper包含一个center test controller (CTC)，它由三部分组成：

如下图所示：

这个分级core（hierarchical core）的I/O包括5个1149.1 signals和6个other signals（用来像1149.1相对于core来说在更低的level使能core通过分级并且提供测试数据和控制信号），一共11个信号。

CTC的机制就是选择要被测试的cores然后分配测试信号给选定的cores，讲解了一下CTC怎么工作的。

只有5个extra I/Os的分级测试架构如下图所示：

hierarchical test manager (HTM)用来生成hierarchical core所需的测试信号，以便于进行lower level的测试操作，它的上游I/O和IEEE 1149.1标准兼容：

upstream I/Os包括：
1. serial test control signals (denoted as TCS_UP and which include TCK_UP, TMS_UP, and TRST_UP)
2. serial test data signals (TDI_UP and TDO_UP)
downstream I/Os包括：
1. 1500 control signals (PCS)
2. TCS_DN (including TCK_DN, TMS_DN, and TRST_DN)
3. serial data I/Os (TDI_H and TDO_H) for the HTMs at the next level
4. serial data I/Os (TDI_C and TDO_C) for the cores at the same level

TAM为1500和BISTed memory cores提供并行数据传输能力。

利用这个架构，分级core的测试问题就能被与1149.1标准兼容的core I/O解决。