Phlux Technology 荣获 SPIE 棱镜奖

英国红外传感器制造商 Phlux Technology 凭借其 Aura 系列 1550nm 无噪铟镓砷（InGaAs）雪崩光电二极管（APD）传感器，荣膺享有盛誉的 SPIE 棱镜奖。这一奖项的颁发仪式于 Photonics West 2026 会议期间的盛大晚宴上隆重举行。

Phlux Technology 的首席执行官 Ben White 感慨道：“这是我们团队历经五年，在技术创新与产品商业化领域持之以恒、不懈奋进所迎来的辉煌时刻。在此，我要诚挚地感谢每一位团队成员，以及由行业专家组成的卓越评审团。他们敏锐地识察到这一红外传感突破的重大意义——此突破将在未来数年对全球诸多行业产生积极而深远的影响。”

该传感器的灵敏度堪称传统 InGaAs APD 的 12 倍，如此显著的性能提升，是红外传感器行业在过去二十余载一直梦寐以求却未能达成的目标。这一突破性进展是通过在化合物半导体制造工艺中融入锑（Antimony）合金得以实现的。此项技术极大程度地削减了雪崩放大过程中产生的噪声，同时还带来了动态范围的拓展、在强信号环境下的快速恢复能力以及更为出色的温度稳定性。

这种无噪 InGaAs 专利技术源于英国谢菲尔德大学历时八年的潜心研究，而 Phlux Technology 正是该校的衍生公司。该传感器提供 30µm、80µm 和 200µm 三种规格。在给定激光功率的情形下，传感器能够将红外系统的探测距离延展高达 50%。或者，在维持系统探测距离不变的前提下，可大幅降低所需的激光功率。这种方式能够将系统成本削减多达 40%，并使尺寸和重量缩减多达 30%。

目前，该传感器的主要应用范畴涵盖专业激光测距仪、光纤测试设备（OTDR）、远距离激光雷达（LiDAR）以及自由空间光通信等领域。

永霖光电-UVSIS-UVLED紫外线应用专家-独家发布