数字逻辑设计-建立时间信号测试
数字逻辑设计-建立时间&信号测试
题目
关于tsut_{su}tsu建立时间, 以下那种说法是正确的(D)
A、建立时间tsut_{su}tsu是指数据在时钟有效沿到来之后必须稳定的时间;
B、建立时间只可能是正值;
C、tsut_{su}tsu和时钟到触发器的走线延迟相关;
D、建立时间tsut_{su}tsu是指数据在时钟有效沿到来前必须稳定的时间.
在极度微观的现代芯片物理底层, 触发器内部是由极其复杂的晶体管组成的. 如果时钟信号进入触发器内部后, 到达采样核心的物理布线延迟, 比数据信号的布线延迟还要长很多, 就会出现一种奇特的现象: 数据就算在时钟沿之后才到达芯片引脚, 也能赶在内部时钟沿之前稳定下来. 此时, 从外部引脚来看, 建立时间tsut_{su}tsu就是负值.
建立时间 (tsut_{su}tsu) 是触发器这个器件自身的固有物理属性(由制造工艺和内部晶体管决定), 它印在器件的数据手册里, 是一个死数值.
题目
信号测试发现有回沟, 可能原因是(ABC)
A、没有在末端测试;
B、信号走线拓扑不好;
C、信号经过的连接器角度, 连接器阻抗不连续导致的.
在高速数字电路中, 回沟是一个非常致命的波形畸变, 是指信号在上升或下降过程中, 没有平滑地一次性到达目标电平, 而是中途突然回头跌落一下, 然后再继续上升, 形成一个非常单调地凹槽.
如果这个回沟刚好穿过了接收端芯片的逻辑判断阈值(比如穿过了VILV_{IL}VIL和VIHV_{IH}VIH之间的死区), 就会导致触发器发生双击 (Double Clocking), 系统会把一个时钟脉冲误认成两个, 直接导致逻辑彻底错乱.
回沟的根本原因
阻抗不连续与反射
信号在传输线上遇到了阻抗变化, 导致了能量的反射 (Reflection). 当反射回来的电磁波与源端正在发送的电磁波在某一点发生叠加时, 波形就会发生畸变.
选项A: 这通常是一个测试假象, 信号在末端可能挺好的, 但因为你在中间测试, 叠加了时间差, 看到了畸变, 因此, 测试高速信号的铁律是: 探头必须尽可能靠近接收芯片的管脚.
选项B: 拓扑结构不好通常指的是走线上存在较长的分支 (Stub), 比如一个信号分给两个芯片, 走了一个未经匹配的Y型或者T型拓扑.
选项C: 经过的连接器较多, 一个高速信号如果连续穿过多个板对板连接器, 每一次阻抗突变都会产生一次微小的反射. 这些成群结队的反射波在走线里来回震荡、互相干涉, 不仅会让上升沿变缓, 还极其容易在边沿上叠加出高频的震荡回沟.
题目
网口变压器的功能主要有(BCD)
A、改善EMI特性
B、阻抗匹配
C、隔离
D、信号耦合
选项A: 改善 EMI 特性主要靠共模滤波器(Common Mode Choke)来完成;
选项B: 阻抗匹配, 网络线缆(100Ω)与芯片内部电路阻抗不一致, 变压器通过匝数比将两侧阻抗转换到相互匹配, 使信号功率传输最大化, 减少反射损耗.
选项C: 隔离, 变压器初级和次级线圈之间没有直接电气连接, 仅靠磁场耦合传递信号. 这样可以隔断两端之间的直流和低频干扰, 也防止一侧的高压(如雷击、静电)损坏另一侧的芯片, 同时满足以太网标准对电气隔离的安全要求.
选项D: 信号耦合, 变压器将发送端的差分信号通过磁场耦合传递到线缆, 或将线缆上的信号耦合给接收芯片, 实现能量的交流传递.
PCB中引起反射的主要因素
反射的根本原因是传输线上出现阻抗不连续, 信号在阻抗突变点会发生部分反射, 就像光从空气射入玻璃会反射一样.
PCB 有多个铜层, 每层的参考平面距离、介质厚度、介电常数可能不同, 导致同一根线换层后特征阻抗发生变化;
过孔对高频信号来说是一个集总参数的不连续点;
线宽的变化, 特征阻抗与线宽密切相关.
