芯片测试时定位不到问题？试试 A/B 排查法

芯片回来了，上板，测试失败——这大概是芯片工程师最难受的时刻之一。

失败可以接受，但找不到失败原因才是真正的噩梦。一块硅片，看不见摸不着内部状态，能输出的信号有限，出了问题要从哪里下手？

A/B 对比测试，是定位问题最有效的方法之一。

什么叫 A/B 测试定位

简单说，就是控制变量，逐步缩小不确定范围。

硅片测试失败，失败的原因可能有很多：电源噪声、时钟质量差、接口协议对不上、某个模块功能异常……想一次排查清楚，很难。

但如果能找到一个"对照组"——一种能通过的配置，和一种不能通过的配置——然后系统地切换变量，很快就能把问题锁定到某个维度。