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基于PIN光电二极管的高灵敏度辐射计设计与实现

1. 项目概述:用PIN光电二极管打造一台高灵敏度辐射计

在电子爱好者和实验者的世界里,测量环境中的辐射水平一直是一个既神秘又充满挑战的领域。传统的盖革-米勒管(GM管)虽然经典,但其体积、功耗和相对较高的本底计数率,有时并不适合进行精细的弱放射性样本分析或长期环境监测。有没有一种更小巧、更灵敏、成本也更可控的方案呢?答案是肯定的。这次分享的,就是基于一枚常见的PIN型光电二极管(如BPW34)为核心传感器,搭配一个经过优化的前置放大器电路和单片机计数器,自制一台能够测量α、β、γ三种辐射的改进型辐射计(项目代号110538)。这套方案的核心优势在于,半导体传感器不仅本底噪声更低,能更清晰地捕捉微弱信号,还具备了测量单个粒子能量的潜力,为后续的能谱分析打开了大门。无论你是想深入了解辐射探测原理的学生,还是热衷于环境监测或矿石样本检测的DIY爱好者,这个项目都能为你提供一个从硬件搭建、软件调试到实际测量的完整实践路径。

2. 核心设计思路与方案选型

2.1 为何选择PIN光电二极管而非GM管?

在辐射探测领域,盖革-米勒管是广为人知的“标准答案”。它通过气体电离产生电脉冲,信号强,电路相对简单。然而,对于本项目追求的高灵敏度和低本底计数目标,PIN光电二极管展现出了独特优势。

首先,是灵敏面积与信噪比的权衡。一个典型的GM管有效灵敏面积可能达到数平方厘米,这意味着它能捕获更多来自环境的本底辐射(如宇宙射线、天然放射性核素),导致本底计数率较高。当你要检测一个微弱放射源时,它的信号很容易被淹没在高本底“噪声”中。而像BPW34这样的PIN二极管,其光敏面通常只有几个平方毫米。更小的灵敏面积直接带来了更低的本底计数率,使得微弱放射源产生的信号增量相对于本底更为明显,信噪比显著提升。这对于鉴别弱放射性样本或进行精确的环境本底测量至关重要。

其次,是能量分辨的潜力。GM管工作在“全或无”的盖革区,只要辐射粒子能量足以触发雪崩放电,输出的脉冲幅度几乎相同,无法区分粒子的能量信息。而半导体探测器(如PIN二极管)工作在电离区,辐射粒子在其中产生的电子-空穴对数量与粒子损失的能量成正比。因此,输出脉冲的幅度直接反映了入射粒子的能量。虽然本项目基础版本主要进行计数,但其电路设计和软件架构已经为脉冲幅度分析(即能谱测量)预留了接口,这是GM管方案难以实现的。

最后,是成本与易用性。PIN光电二极管是极其常见的电子元件,成本低廉,驱动电压低(通常<12V),功耗小,非常适合电池供电的便携设备或长期监测节点。

2.2 系统架构总览:从粒子到读数

整个辐射计的工作流程是一个典型的信号链处理过程,理解这个链条是成功复现的关键。

  1. 传感阶段:高能辐射粒子(α、β、γ)穿透PIN二极管的耗尽层,通过电离作用产生大量电子-空穴对。
  2. 电荷收集与初级转换:在反向偏置电压作用下,这些载流子被迅速扫出耗尽层,在外电路形成一个非常短暂(纳秒级)的微小电流脉冲。这个电流脉冲的积分(即总电荷量)与粒子能量相关。
  3. 前置放大:电流脉冲极其微弱且短暂,直接处理非常困难。因此,需要一个高输入阻抗、低噪声的前置放大器将其转换为一个电压脉冲,并进行初步放大和脉冲成形。本项目采用JFET输入级加运放的组合,旨在获得良好的信噪比和约0.5ms的脉冲宽度,便于后续处理。
  4. 信号调理与数字化:放大后的电压脉冲被送入单片机的模数转换器(ADC)。单片机软件充当了一个“软件比较器”,通过动态设定的阈值来甄别有效的辐射脉冲,并忽略噪声。
  5. 计数与显示:单片机对超过阈值的脉冲进行计数,同时测量其最大幅度(用于能谱分析)。结果通过LCD显示屏实时显示计数和计数率(CPM),并可通过串口上传至PC进行进一步分析。
  6. 人机交互与指示:每个被计数的脉冲都会触发LED闪烁,并可驱动一个小扬声器发出“嘀嗒”声,提供直观的听觉反馈。

这个架构清晰地划分了模拟和数字部分,前置放大器负责保真地提取微弱信号,单片机负责灵活地处理与展示,两者通过一个模拟信号线和一个阈值设定逻辑紧密结合。

3. 核心电路:前置放大器深度解析

前置放大器是整个系统的“耳朵”,其性能直接决定了探测器的灵敏度和稳定性。原文中提到的优化设计,核心在于用JFET加运放的组合替代了简单的比较器方案,这带来了多方面的提升。

3.1 电路原理与关键元件作用

让我们拆解图1所示的电路。核心传感器是并联的PIN光电二极管(如BPW34),它们工作在全电源电压的反向偏置下。这样做有两个好处:一是确保耗尽层宽度最大,提高探测效率;二是降低二极管结电容,有利于高速脉冲响应。

输入级采用BF245B JFET。JFET以其极高的输入阻抗(可达10^9 Ω以上)和较低的电压噪声闻名,非常适合作为微弱电流信号的输入缓冲。辐射产生的瞬时电流在JFET的栅极产生一个电压波动。源极电阻(Rs)的作用是建立JFET的静态工作点,其上的压降(约2-3V)即为整个放大电路的静态偏置电压。这个电压相对稳定,为后级运放提供了合适的直流工作点。栅极通过一个20MΩ的大电阻接地,一方面为栅极提供直流通路,另一方面其高阻值几乎不影响输入信号的电流通路。

放大主体是一个同相运算放大器电路。JFET源极的输出信号直接耦合到运放的同相输入端。运放周围电阻网络决定了其电压增益。根据原文提到的总增益30000倍,可以推断这是一个高增益放大级。放大后的信号从运放输出端引出,其静态电平就是JFET源极的偏置电压(2-3V),辐射脉冲则叠加在这个直流电平上,形成幅度可达200mV的电压脉冲。

注意:在实际搭建时,运放的选择至关重要。应选用低噪声、低失调电压、高输入阻抗的精密运放,例如TL071、OPA系列等。电源去耦必须做好,在每个运放和JFET的电源引脚附近,务必并联一个0.1μF的陶瓷电容和一个10μF的钽电容或电解电容到地,以滤除高频和低频噪声。

3.2 关键参数计算与设计考量

  1. 增益分配:总增益30000倍可能由多级运放电路级联实现。例如,第一级JFET作为源极跟随器,电压增益略小于1,但提供了高输入阻抗和低输出阻抗。第二级运放可能设置增益为100,第三级再设置增益为300,这样级联有利于稳定性和带宽控制。具体电阻值可以根据运放电路标准公式计算:对于同相放大器,增益 A_v = 1 + (R_f / R_g),其中R_f是反馈电阻,R_g是接地电阻。
  2. 带宽与脉冲成形:输出脉冲宽度约0.5ms,这对应一个较低的频率(约2kHz)。电路设计中必然包含了低通滤波环节,用于抑制高频噪声,并将短暂的电流脉冲“拉宽”成便于单片机ADC采样的电压脉冲。这个时间常数通常由反馈网络中的电容决定。例如,在运放的反馈电阻上并联一个小电容(几十到几百皮法),可以限制带宽,减少噪声。
  3. 多二极管并联的权衡:原文提到可以并联多个光电二极管以增加计数率。这确实增大了有效探测面积,但副作用是总结电容(C_d)会成倍增加。根据公式,电流脉冲在输入节点产生的电压变化 ΔV = ΔQ / C_total,其中ΔQ是辐射产生的电荷,C_total是二极管结电容与输入寄生电容之和。电容增大会导致ΔV减小,即单个脉冲的幅度降低,可能不利于信噪比。因此,并联需适度,并且要优先选择自身结电容小的二极管。

3.3 布局、屏蔽与安装要点

辐射信号极其微弱,前置放大器部分对噪声和干扰非常敏感。PCB布局和物理屏蔽是成功与否的决定性因素。

PCB布局原则

  • 分区:将模拟信号区(传感器、JFET、运放)与数字区(单片机、LCD)严格分开。
  • 地平面:使用完整的接地铜层为模拟部分提供稳定的参考地,并尽量减少地回路面积。
  • 走线:传感器到JFET栅极的走线应尽可能短而直,并用接地走线包围进行屏蔽。反馈电阻、电容等关键元件紧靠运放放置。
  • 电源滤波:如前所述,在每个IC的电源入口处加强退耦。

传感器屏蔽实战: 光电二极管对光极其敏感,必须完全隔绝任何光线。同时,电路板本身和周围环境可能引入电磁干扰。

  1. 光屏蔽:将焊接好二极管的传感器区域整体用黑色绝缘胶带包裹多层,确保无缝隙。二极管本身可以先贴一小块黑胶带再焊接,防止PCB板材透光。
  2. 电磁屏蔽:使用薄铝箔覆盖在传感器区域电路板的两面(元件面和焊接面),形成法拉第笼。铝箔必须良好接地(连接到电路的地线)。在铝箔和电路走线之间要用绝缘胶带或热缩管隔离,防止短路。
  3. 机械固定与防麦克风效应:铝箔必须紧密贴附在电路板和二极管上,不能留有悬空振动的部分。否则,铝箔可能像电容麦克风的振膜一样,将声音振动转化为电信号,导致计数器对噪音产生误触发。可以用绝缘胶带将铝箔牢牢缠紧,或者用一颗带垫片的螺丝将铝箔压紧并连接到地线焊盘上。
  4. 独立屏蔽盒:对于探测α粒子(需要移除二极管玻璃窗)或追求极致性能的应用,最好将整个前置放大器电路(包括传感器)单独安装在一个金属小盒(如带盖的铝制糖果盒)中。盒子同样需要接地,所有进出线(电源、信号、地)都要通过屏蔽电缆或滤波磁珠。

4. 计数器与控制系统实现

计数器部分以ATmega88单片机为核心,负责信号甄别、计数、显示和通信。其设计体现了在资源有限的微控制器上实现精确测量的巧思。

4.1 硬件电路解析

主控板电路相对标准。电源部分通过二极管D1防止反接,再由78L05线性稳压器提供稳定的5V电压。ATmega88运行在5V电压下,其ADC参考电压也通常选择AVCC(即5V)。LCD采用标准的并行或I2C接口连接,用于显示计数和时间。两个关键的接口是:

  • ISP接口:用于烧录和更新固件,对于开发调试必不可少。
  • 串口接口:输出TTL电平的TX/RX信号。这里可以连接一个常见的USB转TTL模块(如基于FT232R、CH340、CP2102芯片的),实现与PC的通信,用于上传能谱数据和接收阈值设置命令。

传感器信号通过连接器K1接入,直接送到单片机的ADC0引脚。同时,信号还通过一个电容C8耦合到输出接口K4,这里可以接示波器观察原始波形,或者接音频放大器听声音——不同能量的粒子产生的脉冲声音幅度不同,有经验者甚至可以靠听来粗略区分。

4.2 核心算法:软件比较器与动态阈值

这是整个计数逻辑的精华。单片机通过ADC持续采样传感器输出信号。由于信号叠加在2-3V的直流电平上,直接设置一个固定阈值并不靠谱,因为直流电平会随温度、电源电压轻微漂移。

动态基线跟踪:如清单1所示,上电或复位后,程序首先从EEPROM读取之前保存的阈值增量L(默认10)。然后,连续采集1000个ADC样本,计算其平均值U,这个值就代表了当前的静态直流电平(基线)。然后,将阈值U0设置为U + L。这样,无论基线如何缓慢漂移,阈值始终跟随它,保证了计数的稳定性。

脉冲甄别算法:如清单2所示,这是一个状态机循环。

  1. 等待触发:持续采样ADC,直到读数D超过阈值U0,这标志着一个脉冲的开始。
  2. 脉冲确认与峰值保持:一旦触发,立即点亮LED并驱动扬声器。然后进入一个内部循环,继续采样,并记录该脉冲周期内的最大值Max
  3. 脉冲结束判断:持续采样,直到D回落到阈值U0以下,标志脉冲结束。关闭LED和扬声器。
  4. 计数与数据输出:脉冲计数器N加1。计算脉冲净高度Max - UmUm是基线平均值),将其限制在255以内,然后通过串口发送这个单字节数据。这个字节就代表了该脉冲的幅度信息,用于PC端绘制能谱。

这种“软件比较器”方案非常灵活,阈值L可以通过串口随时调整,以适应不同的噪声环境或探测需求。

4.3 显示、定时与计数率计算

定时器中断(如清单3)负责时间基准。假设使用8MHz系统时钟,预分频后定时器每1/100秒中断一次。中断服务程序中累加秒数S,每60秒分钟数M加1。同时,每分钟会计算一次平均计数率:Count = N / M(计数/分钟,CPM)。LCD上实时显示总计数N和经过的时间M:S,以及每分钟更新一次的CPM值。

实操心得:在软件中,NM等变量应使用足够长的数据类型(如32位无符号长整型),防止长时间运行后溢出。中断服务程序要尽可能短,避免影响主循环的脉冲捕捉。ADC采样率需要设置得足够高,至少要数倍于脉冲宽度(0.5ms对应约2kHz),建议ADC采样率在10kHz以上,以确保能准确捕捉脉冲峰值。

5. PC端能谱分析软件应用

将辐射计通过串口连接到PC,运行配套的Visual Basic程序(如AlphaGamma),可以将简单的计数器升级为一台功能初具的能谱仪。这对于区分不同类型的辐射、分析样本特性极具价值。

5.1 能谱采集原理

单片机为每个探测到的脉冲输出一个字节(0-255),代表其幅度。PC软件维护一个包含255个“桶”(bin)的数组。每收到一个字节,就将对应序号的桶的计数值加1。例如,收到字节“150”,则bin(150)增加1。长时间采集后,统计每个幅度值出现的次数,就形成了“计数-幅度”分布图,即能谱。

5.2 软件功能与操作

软件界面通常包含一个图形显示区域,横轴代表脉冲幅度(对应粒子能量),纵轴代表该幅度出现的计数。采集开始后,能谱曲线逐渐显现。

  • 能量刻度:横轴的255个刻度是相对的ADC值,需要经过校准才能对应到真实的能量(如KeV或MeV)。校准通常需要使用已知能量的放射源(如铯-137的662KeV γ射线)。在本项目中,由于脉冲幅度与能量并非完全线性,且受前置放大器增益影响,精确能量刻度较为复杂,但用于区分α、β、γ和观察能谱形状已经足够。
  • 阈值设置:软件可以通过串口向单片机发送新的阈值增量L值(2-100)。如果发送的值小于100,单片机立即应用新阈值。如果发送的值是100 + L(例如103),则单片机将这个L值(3)保存到EEPROM,下次上电时自动加载。这允许用户根据环境噪声水平精细调整探测灵敏度。
  • 能谱分析实例
    • 纯γ源(如用BPW34):能谱显示为一条从低能区向高能区递减的连续曲线,最高能量处计数很少。
    • α+γ源(如用裸露的BPX61测沥青铀矿):能谱在最高能量区(接近255)会出现一个尖锐的高峰,这是α粒子的特征信号(幅度大)。同时低能区有γ射线产生的连续谱。
    • 加铝箔过滤α:在BPX61前放置一片铝箔(足以阻挡α粒子),能谱中高能区的尖峰会消失或极大减弱,证明α粒子被过滤。
    • β+γ源(如氯化钾):钾-40衰变产生β粒子和γ射线。能谱会显示一个连续的β谱(最大能量处有一个截止边)叠加一个γ射线产生的特征峰(如果能量分辨率足够好)。如图13所示,这种复合谱证明了探测器对β粒子的灵敏度。

5.3 数据解读与局限性

需要清醒认识到,基于PIN二极管的能谱分辨率远不及专业的硅漂移探测器或高纯锗探测器。其能谱更多是用于定性区分和相对比较。

  • α粒子:由于在物质中射程短,能量损失大,即使单能α粒子在能谱上也会呈现一个较宽的峰,而非一条锐线。
  • β粒子:产生连续能谱,在能谱上表现为从低能到某个最大能量的连续分布。
  • γ射线:与物质相互作用(主要是康普顿散射)产生电子,这些电子能量是连续的,因此能谱也是连续分布,但在特定能量处可能有康普顿边缘等特征。

尽管分辨率有限,但通过观察能谱形态的变化,已经能够进行许多有趣的实验,例如鉴别矿物样本中主要的辐射类型、观察屏蔽材料的效果等。

6. 实战构建、调试与问题排查

6.1 分步构建指南

  1. 焊接与准备:首先焊接主控板上的电源、单片机、晶振、LCD接口等部分。先不要焊接传感器和前放部分。通电测试,确保5V电压正常,单片机能够运行,LCD可以显示初始信息。
  2. 前放电路测试(无传感器):焊接前置放大器电路,但暂时不安装PIN二极管。通电,用万用表测量运放输出端电压,应为2-3V左右的稳定直流电压。此时电路极其敏感,用手靠近JFET输入区域,LCD上的计数可能会因人体感应而增加,这初步证明放大电路工作正常。
  3. 安装与屏蔽传感器:将BPW34二极管焊接到位。立即进行严格的屏蔽:在二极管背面(贴PCB面)先贴一层黑胶带,然后将整个传感器区域用铝箔紧密包裹并接地。确保无任何光线可进入。再次通电,测量运放输出,应仍为稳定的直流电压,且用手靠近不应再引起剧烈计数(屏蔽良好时)。
  4. 连接与基线观察:用示波器探头连接测试点K4(原始信号输出)。调整示波器到直流耦合,适当电压和时间档位(如100mV/格,1ms/格)。你应该能看到一条在2-3V直流电平上带有微小噪声的基线,噪声峰峰值应在5mV左右。如果噪声过大或直流电平漂移严重,检查电源滤波和屏蔽。
  5. 寻找本底辐射:将组装好的设备静置。由于宇宙射线和环境中天然放射性核素的存在,几分钟内你应该能在示波器上看到偶尔出现的、明显高于噪声的脉冲信号(幅度数十到上百毫伏),同时LCD计数会缓慢增加,LED也会相应闪烁。恭喜,你的辐射计已经探测到了来自宇宙和环境的辐射!
  6. 测试放射源:可以使用一个微弱的检查源(如含微量镭的夜光表盘、旧的含钍燃气灯罩、或某些铀矿石样本)。将样本靠近(但不要接触)传感器屏蔽层,计数率应有明显上升。务必注意安全,避免使用强放射源,操作后洗手,并妥善保管样本。

6.2 探测α粒子的特殊改装

若要探测α粒子,需将BPW34更换为BPX61,并移除其玻璃窗。

  1. 移除玻璃窗:这是一个精细操作。将BPX61固定好,用微型打磨机(如吊磨配小砂轮)或高速旋转的磨头,极其轻柔、均匀地磨掉玻璃盖。过程中必须佩戴护目镜,并用压缩空气随时吹走粉尘。一旦看到内部芯片的金属键合线,立即停止。任何对芯片或键合线的损伤都会导致二极管失效。
  2. 构建屏蔽舱:改装后的二极管极其脆弱且怕光,必须安装在一个密闭的金属小盒内。盒子内部所有空间(除二极管感光面外)最好用黑色绒布或喷漆处理成黑色以减少反光。样本放置台应紧挨着二极管感光面(距离几毫米内),因为α粒子在空气中射程仅几厘米。盖上盒盖前,确保二极管引线已用绝缘材料固定好,防止短路。
  3. 测试:使用α源(如天然铀矿石薄片)进行测试。在示波器上应能看到幅度高达1-2V的大脉冲,远大于γ射线脉冲。能谱软件中会看到大量计数堆积在高能区。

6.3 常见问题与解决方案速查表

问题现象可能原因排查步骤与解决方案
上电后LCD无显示1. 电源接反或电压不对
2. 单片机未正常工作
3. LCD对比度调节不当
1. 检查电源极性、电压,测量78L05输出是否为5V。
2. 检查晶振是否起振,复位电路是否正常,ISP接口连接是否可靠,尝试重新烧录固件。
3. 调节LCD模块上的电位器(如果有),或检查软件中对比度设置。
计数持续疯狂增加,不受控制1. 传感器或前放输入级受光
2. 屏蔽不良,引入电磁干扰
3. 前置放大器自激振荡
4. 阈值L设置过低
1. 在完全黑暗环境中检查,确保传感器区域无任何光线泄漏。
2. 检查铝箔屏蔽是否全覆盖并良好接地,远离开关电源、电机等干扰源。
3. 用示波器观察运放输出,看是否有高频振荡。可尝试在反馈电阻上并联小电容(如10-100pF)增加相位补偿。
4. 通过PC软件将阈值L调高(如从10调到30),观察是否稳定。
完全没有计数,即使靠近放射源1. 传感器二极管损坏或接反
2. 前置放大器无输出或增益过低
3. 单片机ADC通道或程序配置错误
4. 阈值L设置过高
1. 用万用表二极管档检查PIN二极管正反向特性。
2. 用示波器从前往后逐级检查信号:JFET源极电压是否正常?运放输出静态电平是否2-3V?用金属工具轻触JFET栅极,运放输出应有明显波动。
3. 检查单片机ADC参考电压设置,用代码读取一个已知电压(如分压电阻)测试ADC是否正常。
4. 通过PC软件将阈值L调低,或发送一个很小的值(如3)立即测试。
计数率不稳定,时高时低1. 电源噪声大
2. 基线直流电平漂移
3. 环境辐射本底波动(正常)
1. 加强电源滤波,使用线性稳压电源或电池供电测试。
2. 检查JFET和运放的温度稳定性。确保传感器屏蔽盒内温度相对恒定。
3. 长时间(如24小时)记录本底计数率,观察其统计涨落是否在泊松分布预期范围内。辐射计数本身具有统计性。
PC软件无法连接或收不到数据1. 串口线连接错误
2. 波特率等串口参数不匹配
3. 单片机串口未正确初始化或损坏
1. 检查TX、RX是否交叉连接,地线是否接好。
2. 确认单片机程序设定的波特率(如9600)与PC软件设置一致。
3. 用串口调试助手等工具发送字符,看单片机能否回显(如果固件支持),以测试串口通路。
能谱图形状奇怪,或始终为零1. PC软件接收的数据格式不对
2. 脉冲幅度超出255被限幅
3. 采集时间太短
1. 用串口调试助手查看单片机实际发送的原始数据是否为0-255的字节。
2. 对于α粒子等大信号,可能已超出量程。可考虑在软件中降低前置放大器增益,或调整单片机ADC参考电压。
3. 能谱需要长时间采集(数分钟到数小时)才能形成有统计意义的图形。

7. 性能优化与扩展思路

基础版本成功后,可以根据兴趣进行多种优化和功能扩展。

灵敏度提升

  • 冷却传感器:半导体探测器的噪声随温度降低而显著减小。可以将传感器部分(前放和二极管)放入一个小型保温盒,用帕尔贴贴片制冷,甚至用干冰或液氮冷却(需注意防潮和结露),这能极大降低噪声阈值,探测更弱的辐射。
  • 优化前置放大器:使用更低噪声的JFET(如2SK439)和运放(如OPA140),采用变压器耦合或电荷灵敏放大器架构,可以进一步提升信噪比。
  • 脉冲形状甄别:通过高速ADC采样整个脉冲波形,分析其上升时间、形状等特征,可以在软件层面更好地区分α、β、γ等不同类型的辐射事件。

功能扩展

  • 数据记录与网络上传:为单片机添加SD卡模块或Wi-Fi/蓝牙模块,实现计数率和能谱数据的长期自动记录,并上传到物联网平台或私有服务器,构建分布式环境辐射监测网络。
  • 剂量率估算:通过能量刻度和对辐射类型的粗略区分,结合已知的转换系数,可以尝试将计数率(CPM)估算为剂量率(如μSv/h)。但这需要严谨的校准,结果仅供参考。
  • 便携化与低功耗设计:使用锂电池供电,优化单片机休眠模式(仅在ADC采样和中断时唤醒),采用低功耗LCD或OLED,可以制作成真正的便携式设备。

安全与伦理提醒: 自制辐射测量设备主要用于教育、实验和环境本底监测。切勿用于测量可能存在危险的强放射源(如工业探伤源、医疗放射源)。获取和处置任何放射性样本都应了解并遵守当地法律法规。测量过程中,应遵循“时间、距离、屏蔽”三原则,尽量减少不必要的照射。这个项目最大的价值在于亲手搭建并理解辐射探测的原理,感受微观世界与电子技术的奇妙连接,培养严谨的科学实验态度。

http://www.jsqmd.com/news/885448/

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