DFT笔记79

还需要知道：

1. xOE：output enable signal——indicate the arrival of the output data
2. D：data input
3. Q：data output

我们需要根据xCAS（也就是表8.14的t_CAS）给BIST定一个合适的时钟周期，在这个例子中，表格中对应的t_CAS为10 ns，可以用作一个基础的测试时钟周期（测试时钟不快于100 MHz都是可以选择的）。

有了BIST，我们可以使用简单的logic tester，而不用使用贵贵的memory tester，logic tester更慢而且没那么贵，它能够激活BIST逻辑并且接收到测试结果。

BIST sequencer（是一个timing sequence generator）能够基于时钟周期生成时序信号，它其实就是把时序信号的高低电平信号转换为一些数量的时钟周期，一旦这个转换在BIST设计过程中完成并确定下来，那么EDRAM没有violation of the timing specifications的前提下时钟周期也应该确定了。

在这个例子中，时钟周期（和xCAS period）被假定为20 ns（尽管它可以被减少到接