华为OD机试 - FLASH坏块监测系统 - 并查集（Java 新系统 200分）

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专栏导读

本专栏收录于《华为OD机试（JAVA）真题》。

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一、题目描述

开发一个 FLASH 坏块监测系统，能够监测 FLASH 中坏块的数量。FLASH 介质以一个大小为 m×n 的二维二进制矩阵表示，其中：0 表示正常，1 表示异常。最初，FLASH 介质中的所有单元格都是正常（即，所有单元格都是 0）。系统运行过程中，FLASH 坏块不断产生：随着系统持续运行，某