「新品发布」全新Alicona µCMM NEO微米级三坐标测量系统正式亮相

光学尺寸计量的精度标杆

全新µCMM NEO隆重发布

下一代光学三坐标测量系统

Alicona µCMM NEO

当您的零部件追求极致精度时，您的计量方案也应同样卓越。

马路科技基于30年光学计量经验，推出全新Bruker µCMM NEO，突破传统尺寸测量的局限，实现更全面的测量能力。

以"表面形貌”的测量理念与完整的三维数据为基础，帮助深入理解关键功能特征——无论是微小几何结构、自由曲面还是微孔结构，均可实现更高效率、更高精度以及更深入的数据洞察。

追求极致精度的计量方案

µCMM NEO不仅关注尺寸，更通过基于表面的分析方式，实现对功能特征的真实理解——在每一分钟测量中获取更多信息，为您提供更深入的零件功能性能洞察。

五轴高精度系统确保在整个测量体积范围内实现最高测量精度，同时尺寸、形位公差、形状和粗糙度可在一次一致的测量流程中完成评估。

减少装夹复杂性，无需重复定位，以一体化光学平台替代多种传统测量系统。

专为对精度要求极高的制造企业而打造。

µCMM NEO微米级测量挑战

用于微米级精密制造的光学三坐标测量系统

融合多种光学测量技术与完整三维数据，集成于统一平台，实现从尺寸测量到功能特征表面化理解的全面跃升。

为微米级精度而生，超越极限

专为测量最微小几何结构而设计，以卓越的非接触精度，满足高端精密部件的测量需求。

µCMM NEO关键优势

以表面为核心的计量理念，每分钟获取更多测量信息。轮廓与表面，一次测量完成，从尺寸数据迈向对部件功能的深度理解。

一体化平台，一次测量完成

尺寸、位置、形状与粗糙度在同一平台、一次测量流程中完成评估。替代多种传统测量系统，无需重复定位。

精度毫不妥协

五轴高精度系统实现卓越的尺寸与位置测量精度，在整个测量体积范围内保持稳定可靠。

自第一代产品推出以来，Bruker Alicona 的 μCMM 一直是高精密制造领域中真正的高端测量系统。Stepper 始终代表着最高精度与卓越生产力，因此选择将 μCMM 应用于质量保障，对我们而言是顺理成章的决定。我们深感自豪，早在 2018 年便成为首家 μCMM 客户。八年后的今天，我们再次作为首批用户采用 μCMM NEO，延续这一成功合作——这也是双方在精密制造道路上的又一重要里程碑。

Michael Stepper, Fritz Stepper GmbH 首席执行官

自动化高精度光学尺寸测量

µCMM NEO 搭配智能光学 3D 计量平台 MetMaX，可充分发挥其性能潜力。导入 CAD 模型，选择所需的 GD&T 或 PMI 特征，即可开始测量。

MetMaX 自动生成智能测量策略，在不同用户、不同部件及生产环境中，提供快速、一致且可追溯的测量结果。